仪器用途：用于金属材料显微组织的明场、暗场、偏光以及干涉分析；金属及非金属晶体微观测试及结构分析；表面镀层厚度测量；晶粒度评级；渗层、脱碳层深度测量；颗粒尺寸测量；相百分比含量测定；非金属夹杂物评级；球化率评定等金相组织的定性与定量分析，拍摄2倍至2000倍的金相照片。
技术指标:
集明场、暗场、偏光、相衬、微分干涉和宏观照 相于一体；
CCD像素：500万；
宽视场金相显微镜、双照相系统。
