仪器用途
D8 ADVANCE X射线衍射仪采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，能实现BB聚焦几何下物质的定性定量分析，平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析以及点光源应用（织构、应力及微区等）,该仪器在化学、物理、材料、生物及矿物学领域均有广泛应用。
技术指标：
Theta/theta立式测角仪
2Theta角度范围：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cu靶，标准尺寸光管
探测器：林克斯XE阵列探测器
